AES系列CHILLER

电子元器件可靠性测试：冠亚恒温AES系列CHILLER应用

2026/04/10 2

冠亚研发的AES系列CHILLER气体制冷设备，是专为电子元器件可靠性测试设计的专用温控设备，采用射流式快速温变技术，可实现-80℃至225℃的宽温域控温，升降温速率快，控温jing度高，适配电子元器件可靠性测试的各类...

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