新闻中心

接触式芯片温度控制系统在芯片测试中的实际价值有哪些

2025/08/29 30

在半导体芯片研发与生产测试中，接触式芯片温度控制系统是模拟芯片苛刻温度工作环境、验证性能稳定性的核心设备之一。随着芯片制程不断精细化、功率密度持续提升，对温控系统的响应速度提出更高要求。 　一、接...

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冠亚恒温|直击Automotive Testing Expo 2025展会现场，共享展会盛况

2025/08/28 47

. 期待已久的 2025年汽车测试及质量监控博览会 Automotive Testing Expo 2025 终于在8月27日盛大开幕啦！ 让我们来看看冠亚恒温 在上海·世博展览馆1号馆 2050展位的 首日盛况吧！ 冠亚恒温展台  ▼    ...

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光模块高低温测试设备稳定运行要考虑哪些

2025/08/22 39

在半导体及光通信产业体系中，光模块作为信号传输的核心载体之一，其可靠性直接决定了通信系统的稳定运行。光模块高低温测试设备是验证光模块在苛刻温度环境下性能稳定性的关键环节，测试周期的长短则直接影响光...

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光通迅行业高低温测试设备选型考虑哪些因素

2025/08/22 34

在光通信产业中，光器件作为信号传输与处理的核心组件，其工作环境常面临温度波动、湿度变化等复杂条件，性能稳定性直接影响整个通信系统的传输质量与运行可靠性。光通迅行业高低温测试设备作为验证光器件在苛刻...

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高精度独立温控水冷机组如何实现工业冷却需求

2025/08/22 28

在工业生产尤其是半导体、新能源等领域，设备运行产生的热量控制直接影响产品质量与生产稳定性，高精度独立温控水冷机组凭借对温度的准确调控能力，成为关键支撑设备。 从设计逻辑来看，高精度独立温控水冷机组...

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高精度半导体温控老化箱的温度场调控与器件可靠性验证方法研究

2025/08/14 32

在半导体产业中，器件的长期可靠性是衡量产品质量的核心指标之一，而温度是影响半导体性能的关键环境因素。高精度半导体温控老化箱作为专用测试设备，通过构建稳定可控的温度环境，对半导体器件进行长时间的老化...

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宽温域半导体老化测试Chamber的环境模拟可靠性评估

2025/08/14 27

在半导体器件的可靠性验证体系中，宽温域老化测试是评估器件在苛刻环境下长期稳定性的关键手段。宽温域半导体老化测试Chamber作为配套控温设备，能够在广阔温度范围内构建可控环境，通过模拟器件可能遭遇的苛刻温...

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半导体温度循环测试箱的快速温变模拟技术研究

2025/08/14 33

在半导体器件的可靠性验证体系中，温度循环测试是评估器件耐受环境应力能力的关键环节。半导体温度循环测试箱通过模拟苛刻温度的快速交替变化，能够准确检测材料在温度应力下的疲劳特性，为器件的结构设计优化与...

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半导体测试chamber基于复杂环境模拟的多功能性与场景适配研究

2025/08/08 35

在半导体器件的研发与生产流程中，测试chamber作为模拟复杂环境的核心设备之一，其性能直接影响产品质量验证的准确性。半导体测试chamber通过整合温度控制、湿度调节、气体环境模拟等多种功能，能够满足不同类型...

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高精度半导体老化箱基于苛刻环境模拟的全流程中的应用解析

2025/08/08 30

在芯片研发流程中，可靠性验证是确保产品从实验室走向产业化的环节，而高精度半导体老化箱作为模拟苛刻环境的关键设备之一，通过准确控制温度、湿度等参数，为芯片长期性能评估提供了可信赖的测试环境。 　一、...

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半导体全自动控温老化设备基于可靠性验证需求的操作流程与维护要点

2025/08/08 31

半导体全自动控温老化设备作为模拟器件长期工作环境的核心装置，通过准确控制温度、湿度等参数，加速器件潜在问题的暴露，为产品可靠性验证提供关键数据。其操作的规范性与维护的科学性直接影响测试结果的准确性...

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多通道半导体老化测试系统的模块化设计及功能模块介绍

2025/07/31 35

在半导体器件的可靠性测试领域，多通道老化测试系统凭借并行处理能力与灵活配置特性，成为满足大规模量产测试需求的核心装备之一。其模块化设计不仅简化了系统搭建与维护流程，更通过标准化接口实现了测试场景的...

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半导体Chiller设备在光刻、刻蚀与薄膜沉积中的应用实践

2025/07/25 47

在晶圆制造过程中，温度控制的准确性直接影响光刻、刻蚀、薄膜沉积等关键工艺的稳定性与产品良率。半导体Chiller设备作为温度控制的核心装置之一，通过制冷与加热的动态调节，为不同制程提供稳定的温度环境。 　...

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快速温变半导体老化测试箱的温度调控机制与效率优化方法

2025/07/25 40

在半导体器件可靠性评估领域，快速温变半导体老化测试箱通过准确控制温度变化速率与循环周期，为加速器件老化过程提供了关键技术支撑。其核心优势在于通过模拟苛刻温度变化环境，缩短传统老化测试所需的时间周期...

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工业级半导体老化测试chamber结构优化与长期稳定运行的技术实现

2025/07/25 42

在半导体制造的可靠性测试环节，工业级半导体老化测试chamber需在长期高负荷运行中保持稳定性能，以满足大规模器件测试的连续性与准确性要求。其耐用性设计涉及机械结构、温控系统、材料选择及防护机制等多个维度...

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涂胶显影水冷机Photo/Track Chiller如何提升光刻胶均匀性

2025/07/17 67

在半导体涂胶显影制造过程中，涂胶显影水冷机Photo/TrackTrack chiller作为工艺温控的设备，通过准确的温度调节与稳定散热的能力，为光刻、刻蚀、涂胶显影等关键制程提供稳定的热管理支持，其技术性能直接影响制...

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