锁定微小温差:Chiller温控机以±0.02精度构筑半导体电性测试的稳态环境 2026/05/11 3 在半导体器件测试过程中,温度微小变化有时会引起电参数波动,因此控温能力常被视为测试环境的重要指标之一。无锡冠亚FLTZ系列Chiller温控机控温精度可达±0.02,意味着其能够在设定温度下维持较小的波动范围。结... 查看全文