AES 系列温控设备

半导体元器件冲击测试：AES 系列温控设备介绍

2026/04/28 2

半导体元器件在实际使用过程中，会面临温度骤变的环境，高低温冲击测试是验证元器件温度耐受能力、排查失效隐患的关键环节，冠亚研发的AES系列温控设备，专为半导体元器件冲击测试设计，依托快速温变、宽温域控温...

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