AES射流式测试机

芯片与电子元器件快速温变测试流程及设备应用建议

2026/06/12 2

芯片、模块、集成电路板和电子元器件在研发验证、电性能测试、失效分析和可靠性评估中，常需要进行快速温变和高低温冲击测试。无锡冠亚AES系列和AET系列可分别用于局部温度冲击、控温卡盘、腔体环境、热沉板和电...

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