高低温实验温箱

半导体温度循环测试箱的快速温变模拟技术研究

2025/08/14 8

在半导体器件的可靠性验证体系中，温度循环测试是评估器件耐受环境应力能力的关键环节。半导体温度循环测试箱通过模拟苛刻温度的快速交替变化，能够准确检测材料在温度应力下的疲劳特性，为器件的结构设计优化与...

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