接触式冷热测试设备

半导体失效分析：接触式冷热测试设备工况说明

2026/06/17 3

半导体失效分析需要复现芯片ji端温度下故障现象，接触式高低温测试机可精准控制样品温度，同步观测电学失效特征，广泛用于芯片故障定位、失效机理判定。本文讲解失效分析专属工况、设备配置匹配与操作规范。 一...

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