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冠亚恒温小编说明 GD-518-B1-DC 型号芯片老化测试箱的参数与应用。该型号温度范围为 – 20℃至 + 150℃，覆盖中低温至高温区间，适配温度循环、高低温老化、宽温域可靠性验证等场景。
内箱尺寸 60×138×65cm，标准 24 层 10kW 负载，层数可定制，适配汽车电子、工业控制、通信等需耐受低温与高温的芯片。相比常温型号，增加 – 20℃低温能力，可模拟低温启动、低温存储、昼夜温差等工况。
温度性能：升温速率 – 20℃至 + 125℃线性 2℃/min；降温速率 + 125℃至 – 20℃线性 2℃/min，可快速完成宽温域升降温，适配温度循环与高低温冲击组合测试。出风口波动度≤±0.1℃，均匀度≤±3℃，宽温域内保持稳定。
制冷方式为单级制冷，可稳定实现 – 20℃低温输出，配合电加热系统，覆盖 – 20℃至 + 150℃全区间。强制循环风道优化，低温下减少结露，高温下提升散热效率，保证不同温度段均匀性。
控制系统采用分段模糊 PID，在低温、常温、高温不同区间自动调整控制参数，减少低温过冲与高温漂移，维持设定温度稳定。支持多段宽温域曲线编程，可组合低温恒温、高温老化、温度循环等复杂流程，模拟实际工况叠加。
安全配置包含低温防结露保护、制冷系统高低压保护、加热器保护、电器保护等，保障宽温域运行安全。适配汽车电子、工业控制等对低温性能有要求的芯片老化与可靠性验证。
GD-518-B1-DC 以 – 20℃至 + 150℃宽温域、稳定控温、单级制冷维护便捷的特点，适合需兼顾低温与高温验证的芯片测试场景，拓展常规老化测试的温度覆盖范围。
